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薄膜應力測量儀
基于經典基片彎曲法Stoney公式測量原理，采用激光掃描方式和探測技術，以及智能化的操作，使得AUT-FST5000薄膜應力測量儀特別適合于晶圓類光電薄膜樣品的弓高、翹曲、輪廓形貌、曲率半徑和薄膜應力測量和計算.

型號：廠商性質：代理商
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應力雙折射測量
應力雙折射測量LSM - 9000LE是一款用于定量測量透明體內延遲量的應變和雙折射以及慢軸的方向的二維裝置。$nSenarmon方法是一種測量方法，其中測量者旋轉分析儀并通過使測量位置的亮度亮到暗來定量測量延遲。但是，在現有的視覺方式中，根據測量環境和測量者的亮度判斷，存在偏差。此外，在半自動中心，延遲測量的準確性與視覺類型相比有所提高，但是測量位置僅限于圖像中的特定部分。

型號：廠商性質：代理商
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